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長春海洋光電有限公司


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 激光系列產品 >> 激光測試測量儀器 >> Hi-Q光學測試測量系統
 
產品編號:
5514593416
產品名稱:
Hi-Q光學測試測量系統
規  格:
產品備注:
產品類別:
激光系列產品
 
   產 品 說 明

美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統提供了完全自動化地測量連續激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統能夠快速地測量激光相位噪聲,評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。

該系統在寬帶測量方面是獨一無二的,它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統操作簡單、方便、快速、精度,且無需附加額外的測試設備。這臺獨一無二的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴展到不同的輸入波段,并用于低相對強度噪聲測量。

 

特點

超低相位/頻率噪聲測量

快速實時測量

即刻和擴展的FWHM線寬分析

需要低噪聲參考光源

用戶友好界面

簡單的基于PC的操作

▪ 3U x 19英寸機架系統

可定制的配置、升級和選項

 

光學測試測量系統

型號

OE4000

波長

1530 – 1565 nm

動力學范圍

60dB

光學輸入功率范圍

+5 to +15 dBm (PM-FC/APC)

測量類型

頻率噪聲/零差相位

數據存儲與I/O

HDD / USB端口

帶寬分辨率

0.1 Hz – 200 kHz

電源電壓

110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz

光學測試測量系統尺寸

3U x 19英寸機架式

低或高輸入功率范圍

可選

波長范圍(可選)

740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm)

(選擇多波長范圍以及定制波長范圍請咨詢)

 

可選擇的配置

630 nm  -  2200 nm范圍內多個輸入波段

超低噪聲基底

相對強度噪聲測量

擴展的偏移頻率范圍可達2 GHz

擴展的輸入功率范圍

遠程操作

性能和頻率

定制范圍選擇和升級

 

 

點擊數:772  錄入時間:2019/5/5 【打印此頁】 【關閉
 
 
 

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